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天瑞仪器参加2024第五届表面处理技术高峰论坛

来源: 作者:江苏天瑞仪器股份有限公司 2024/5/19 13:36:47

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2024(第五届)表面处理技术高峰论坛于4月10日-12日在中国·武汉欧亚会展国际酒店顺利召开,会议邀请相关领域重量级专家【科研院所、国内外优势领域单位、装备企业(含航空航天、装备、船舶、核电、电子等领域)等】与会报告探讨,涉及涂装、电镀、电刷镀、化学镀、真空镀膜、热喷涂、冷喷涂、阳极氧化、防锈润滑等装备表面处理相关领域。天瑞仪器受邀并携特色产品及行业解决方案参会。


会议现场

        通过现场仪器的演示与技术人员的精彩讲解,天瑞仪器向现场观众呈现了精彩的产品及技术分享。此次展会,展出产品包括EDX 600Pro能量色散X荧光光谱仪、全自动微区膜厚测试EDX2000A能量色散X荧光光谱仪、双摄广角大平台EDX-T能量色散X荧光光谱仪、多导毛细聚焦EDX-VX射线荧光镀层测厚仪等。

        EDX 600Pro测量方便快捷,无需样品前处理。可自动切换的多准直器和滤光片,可满足对电镀液成分及浓度测试;可兼顾ROHS成分分析和镀层厚度测试;还可满足对各种微量元素的管控需求。实现多功能准确测量。

        EDX2000A采用自动化三维控制系统,可满足各类镀层厚度分析、电镀液和镀层元素含量分析。双激光能精准快速地完成对产品的测量点定位。对于复杂底材及多层复杂镀层样品,也能准确测量。

        EDX-T采用全新上照式设计,可变焦双摄像头,呈现高清广角视野;可自动切换的多准直器和滤光片,可兼顾ROHS成分分析、各种大小异形镀层产品厚度测试、全元素分析;独立的高精度伺服电机扩大XY平台移动范围,可自动完成多个产品及多个测试点的连续测量,大大提高测样效率。

        EDX-V是天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术研发的一款全新的从上至下照射X荧光的测试仪,适用于无损分析和测量极微小部件上镀层的厚度。该款仪器采用多导毛细管X射线光学系统,对于微米级尺寸电子零件、芯片导线、晶圆微区等部件上的镀层厚度和成分分析,能进行最为高效、准确的测量。

技术人员接待客户

        现场众多参会人士对天瑞仪器产品表现出了浓厚的兴趣,并留下信息表达了继续沟通合作的意愿。这充分表明大家对天瑞仪器的品质、专业性给予了高度的肯定。

         天瑞仪器有30多年的XRF的技术经验,一直是国内XRF行业技术的引领者。公司拥有强大的研发技术团队。能够为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供专业的技术检测解决方案。在镀层检测领域,我司拥有丰富的产品类型,多种类的产品配置,为电镀行业客户各类需求提供不同的检测产品。


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